技术编号：6583667
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种品质测试方法，且特别涉及一种。 背景技术在电子组件或零件的生产过程中，不可避免地会产生外观尺寸及表面瑕疵，例如 污点、刮痕、缺角、变形或变色等，这些不良的零件必须经由品管工程师进行目视筛选、检视 及回收的作业，以确保产品的品质水准。为了提高产品的品质水准，对于供货商所提供的零件进行严格的品质管理，以促 使其逐步达到「免检入库」的标准。所谓「免检入库」是指购入的零件不必经过检验就可以 直接入库使用，这代表对供货商的品质信赖，也代表对产品品质的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。