技术编号:6587276
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学测量技术,尤其是。 背景技术光学零件中心间距的测量在光学装配中经常使用,对于精度要求较高的光学系统来说, 为了提高光学系统的装配精度,保证光学系统的成像质量,需要对光学零件的装配结果进行 检测。对常规的共轴光学系统中光学零件中心间距的测量方法很多,而对于非共轴且有一定 空间角度的光学系统中光学零件中心间距的测量方法比较少,急需一种测量精度高、可操作 性强的测量方法。发明内容本发明的目的是提供一种测量精度高、可操作性强的。为实现上述目的,本发明...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。