一种用于虚拟多介质电容提取中最优切割数的生成方法技术资料下载

技术编号:6587679

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属于集成电路计算机辅助设计(IC-CAD)中的三维互连电容提取。背景技术集成电路(Integrated Circuit,IC)是当前电子工业、乃至信息产业的基石。随着半导体集成电路制造技术的发展,电路中金属互连线越来越窄(达到0.13微米以下),线与线的间距也越来越小。这使得互连线之间的电磁场寄生效应已成为影响诸如延迟、功耗和可靠性等电路性能的主要因素。因此,在集成电路设计中必须考虑互连寄生效应。当前集成电路的设计流程如图1所示。要设计一块芯片,首先要提出...
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