技术编号：6591606
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种几何相位分析法，特别涉及人工制栅几何相位分析法，属实验力学及光学测试领域。背景技术几何相位分析法由取tch等人提出，用于计算晶格的局部变形。2003年取tch等人利用几何相位法测量硅原子的位错，测量精度达到0.003nm。刘占伟等人在这方面做了大量工作，将几何相位法应用到无规则栅格结构的物体变形测量，并提出了人工制栅几何相位分析法，具体可见文献“Liu Z W，Huang X F，Xie H M, et al.Theartificial pe...
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