技术编号：6593350
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及和影响要因特定装置，详细而言，涉及特定对目的 变量的值影响大的说明变量的及影响要因特定装置。这种影响要因特定 方法及影响要因特定装置，其典型应用为在制造工艺中，用于特定对制品的检查结果施加 影响的制造条件。本发明又涉及用于使计算机执行这种的影响要因特定程序。本发明也涉及记录这种影响要因特定程序的计算机可读记录介质。背景技术作为明确目的变量与说明变量的关系以特定对目的变量的值影响大的说明变量 (影响要因分析)用的技术，在质量管理、要因分析等领域广泛...
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