技术编号:6595942
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种等离子显示屏制造过程特性的数据挖掘技术,尤其是涉及。背景技术当面对等离子显示屏如此的数据复杂性及数据量,用具体数据分析方法(例如特征抽取、决策树分类分析、频繁规则挖掘等)往往需要耗费少则几分钟,多则几小时的时间来进行分析计算。当需要进行大量重复性试验时,这样的时间消耗会变得难以承受。发明内容为了克服现有技术的上述缺点,本发明提供了一种,可以给使用者展现一系列的统计指标,让使用者可以快速对数据的分布特性有量化的了解。本发明解决其技术问题所采用的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。