通过时钟占空比调整的半导体器件的性能退化的补偿的制作方法技术资料下载

技术编号:6596229

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一般而言,本发明系关于先进的集成电路,如包括高度微缩(highly scaled)晶体管组件的CPU,和用来增加产品性能的补偿技术。背景技术先进的集成电路的制造,如CPU,存储器件,ASIC(专用集成电路),等等,需要按照特定的电路布局在给定的芯片区域上形成大量电路组件,其中场效应晶体管代表电路组件的一重要类型,其实质确定集成电路的性能。一般来说,目前的多种工艺技术,其中,对于包括场效应晶体管的复杂电路的许多类型,由于鉴于工作速度和/或功率消耗和/或成本效...
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