技术编号：6599067
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是为一种测试方法，特别是指应用于计算机硬件测试中的。2、存在潜在的测试漏洞。上述串行测试法没有考虑到多硬件共同测试的情况。为了消除串行测试法的缺点，可采用并行测试法。最基本的方法是为每个测试项生成一个测试线程，如附图说明图1B所示，所有测试项同时进行测试。但并行测试法的问题是不同测试项的间同时测试可能会产生冲突。例如，不能同时进行硬盘的Sequential Seek测试和Random Seek测试。为解决上述缺失，这时需要一种既有并行测试法的高效率高...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
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