技术编号:66029
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及硬件测试的技术领域,尤其涉及对存储器接口电路进行调试的技术。背景技术随着以太网和芯片技术的迅猛发展,存储器芯片以及存储器IP(以下以存储器IP 为例进行说明,所述存储器均指存储器IP)的规模也越来越大,对存储器芯片进行测试以 保证其内部电路的正确性显得尤为重要。现有的BIST (Built-in SelfTest,内建自测试) 技术,在芯片电路设计的时候,在存储器内部插入一些逻辑门电路,在芯片制造的时候由制 造商进行生产测试,以检测存储器芯片是否合格。其基本结构如图1所示。 该BIST结构需要利用专用外部...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。