技术编号:6606232
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于通过捕捉测量对象的表面的图像来对测量对象的表面上的位置 进行测量的。背景技术图像捕捉位置测量设备已经被用来对测量对象的长度(在本说明书中,这被称为 测量对象的总长度,测量对象的一部分的尺寸,或测量对象的位移等)进行测量。这样的位 置测量设备使用由(XD、CMOS图像传感器阵列等组成的图像传感器来捕捉从测量对象的表 面辐射的光学图像,并分析由这样的图像捕捉而获得的图像信号,借此对测量对象的长度 进行测量。举例来说,在日本特开第2002-0139...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。