技术编号：6611319
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及一种，并且更具体地涉及一种使用BIST (build-in self test,内建自测试)方案的智能卡以及测试该智能卡 的方法，所述BIST方案用于增加能够并行测试的智能卡的数量。背景技术测试智能卡可以包括如下步骤第一步骤，测试智能卡和主机之间的接 口；第二步骤，测试非易失性存储器的操作；以及第三步骤，测试外围设备 的操作。例如，外围设备可以包括外围电路、易失性存储器、ROM等等。第二测试步骤可能比第一步骤或第三步骤需要更多的处理时间，因为非易...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
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