技术编号:6613013
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种,且特别是有关于一种对嵌入式系统 的随机存取记忆进行测试的方法。背景技术随着半导体制程尺寸不断縮小,IC设计规模越来越大,高度复杂的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑 战。 一方面随着半导体制程尺寸的縮小,嵌入式存储体可能存在的缺陷类型越 来越多,且存储体紧密的结构特征使其更容易受到各类缺陷的影响。另一方面,随着IC产品的复杂度的提高,R0M、 RAM、 EEPROM在IC产品中的应用比重将随之 ...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。