技术编号：6622811
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及微处理器中的差错(error)检测，具体地说，涉及通过跟踪动态死指令来减少微处理器中的虚假差错检测。背景技术 由于中子和阿尔发粒子的撞击造成的瞬态故障(fault)正在成为未来处理技术中处理器晶体管数量增多的明显阻碍。虽然个别晶体管的故障率可能不会升高很多，但是向一个器件中加入更多的晶体管就使得该器件更有可能遇到故障。结果，预计将处理器差错率保持在可接受的水平上将需要更多设计方面的努力。由瞬态故障引起的单比特翻转已成为今天微处理器设计中很重要的挑...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。