技术编号:6635867
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。提供一种。所述方法包括(A)根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码;(B)基于测试代码随机测试功能覆盖项,以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率;(C)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下,根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间;(D)根据累计功能覆盖率的收敛时间更新功能覆盖项和/或测试代码,然后基于更新的功能覆盖项和/或测试代码返回执行步骤(B),其中,所述累计功能覆盖率是累计的已测试完的功能...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。