技术编号:6638724
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种ASIC芯片寄存器的访问方法,特别涉及一种提高ASIC芯片寄存器访问可靠性的设计方法。本发明的一种提高ASIC芯片寄存器访问可靠性的设计方法,主要考虑功能复杂、功能模块众多的ASIC芯片结构的特点,采用芯片内部逻辑模块寄存器串联构建寄存器链,并与寄存器访问控制器输入、输出相连构建寄存器访问控制环的方式,实现单一寄存器访问控制器对众多功能模块的寄存器访问;并通过内部计时器控制寄存器访问控制器的带内复位、访问结果分析与控制模块控制寄存器访问控制器...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。