技术编号：6649447
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。背景本发明的实施例一般涉及在处理器中处理差错，尤其涉及处理微处理器的合并缓冲器中的软差错。来自瞬时故障的单比特翻转或差错是微处理器设计中的关键挑战。该故障源于来自宇宙射线的高能粒子—诸如中子和来自封装材料的阿尔法粒子—当它们经过半导体器件时产生电子—空穴对。晶体管源和扩散节点可收集这些电荷。足够量的累积电荷会改变逻辑装置的状态—诸如静态随机存取存储器(SRAM)单元、锁存器或门电路—从而将逻辑差错引入电子电路的运作中。因为这种差错不反映器件的永久性故障，所...
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