技术编号:6736630
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及IC设计中进行存储器内建自测试领域,特别是通过Mask Change 的方式修改了 ROM系数仍可重复使用的。 背景技术随着半导体工艺尺寸不断縮小,集成电路IC设计的规模越来越大,高度复杂 的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严 峻的挑战。 一方面随着半导体工艺尺寸的縮小,嵌入式存储器可能存在的缺陷类 型越来越多;另一方面,随着IC产品的复杂度的提高,只读存储器ROM在IC产 品中的比重越来越大;所以对存储器进行...
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