技术编号:6736747
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于利用内建修复分析技术提高系统级芯片中嵌入式存储器良率的,具体涉及一种利用存储器片上已有的错误校验码,在保证修复率的前提下减小内建修复分析的硬件开销的方法。背景技术在现代系统级芯片(System-on-Chip,SoC)中,嵌入式存储器的数量和容量与日俱增。在不久的将来,各种功能的嵌入式存储器在SoC中的面积将超过80%。因此,嵌入式存储器的设计将采用更高工艺和更具挑战性的设计规则,这将导致其比芯片上的逻辑功能电路更易受到制造过程甚至后制造过程中产...
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