使用相位调制进行磁缺陷分类的制作方法技术资料下载

技术编号:6739774

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本发明一般地涉及数据存储领域,更具体地涉及一种使用相位调制进行硬盘驱动器磁缺陷分类的方法、设备和系统。背景技术在硬盘驱动器(HDD)中,磁阻(MR)传感器通常被用来感测记录在可写磁盘表面上的数据的磁性模式。MR传感器检测磁传感器经过磁写入在旋转的磁盘介质上的比特时经历的磁场强度变化(DH),并将检测到的DH直接转换为随时间变化的电压电平(DV)电信号,该信号可以通过读取通道电子转换成数据比特。两种类型的磁盘介质缺陷包括凸起或热粗糙(TA, thermal ...
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