技术编号：6740055
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路制造领域，特别涉及一种。背景技术在半导体制程中，有半导体测试这一步骤，半导体测试的目的是控制测试系统硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标。Flash存储器作为一种常用器件，其也需要进行相应参数的检测，对于这种器件， 其擦除电压(VEE)和编程电压(VEP)的测试方法包括在计算器(register)中载入一组数据，例如可以是编程电压，通常可以为16个，位于计算器的16个档位中；并通过在该档位下的值...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术无源代码，用于学习原理，如您想要源代码请勿下载。