技术编号:6740966
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及对存储器抗辐射容错,主要涉及利用FPGA实现错误检测和纠正编码EDAC模块的三模冗余对存储器粒子翻转的容错装置。背景技术空间飞行器在空间工作时,将受到不同能量和不同剂量的多种射线(主要是高能质子和高能重离子)的照射。这些射线照射在元器件上引起单粒子效应(Single EventEffect, SEE)会对空间飞行器性能造成一定的损伤,引起飞行器在轨运行故障和失效。随着电子系统复杂性和可靠性的提高,对系统中存储器的可靠性和性能也提出更高的要求。...
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