技术编号:6744126
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及具有测试压缩功能的存储电路,更具体地说,涉及这类存储电路它在降低测试压缩率的同时,可以提高废元的恢复率,还可以提高测试设备的同步测试率。在测试大容量存储电路时,对与测试设备并联的许多存储芯片进行同步测量。为了同步测试更多存储芯片,甚至不管测试设备内置探头数量的限制,压缩存储芯片的输出,减少每一个的输出数。比如,对16位输出的存储芯片,在测试操作时,16位输出压缩到16分之1,变成1位输出。这样,可以使同步测试的存储芯片数等于测试设备的探头数,每个...
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