技术编号：6744291
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体集成电路器件，例如用于检验半导体存储电路的存储器检验电路。<第一现有技术>这里所述的第一现有技术是由日本专利公开公报NO.63-204325公开的一种技术，其中描述了一种作为半导体存储电路形成的存储器检验电路。图37表示按第一现有技术的一种单向伪随机数产生电路。该单向伪随机数产生电路按一种伪随机顺序向一个半导体存储电路提供地址信号(这种类型的伪随机数产生电路称之为“产生全循环序列的电路”)。在图37中，标号1为移...
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