技术编号:6750987
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体存储器件,尤其涉及缺陷单元地址编程电路,以及对缺陷单元地址编程以便修复缺陷存储单元的方法。背景技术 通常在半导体存储器封装之后测试半导体存储器。当发现损坏或缺陷存储单元时,在另外提供器件中存储用于存取损坏或缺陷存储单元的地址(在此之后称作″缺陷单元地址″)。确定是否能够修复缺陷存储单元。如果能够修复缺陷存储单元,则通过把缺陷单元地址施加到模式设置寄存器,把存储在附加提供的器件中的缺陷单元地址编程到半导体存储器件中。图1是传统半导体存储器件的...
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