技术编号:6752929
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明大体上涉及闪存器件的制造,更具体地,涉及一种用于通过最少数量的管脚执行核心闪存单元阵列的内建式自测试(BIST)的系统以及方法,以同时测试单一半导体晶片上最大数量的芯片。后述的[具体实施方式]一节将安排成以下的多个子节A.BIST(内建式自测试)系统;B.BIST(内建式自测试)接口;C.后端BIST(内建式自测试)状态机;D.核心闪存单元缺陷地址的片上修复(On-Chip Repair);E.用于测试该BIST(内建式自测试)后端状态机功能的诊断模...
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