技术编号：6759803
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种，特别涉及一种基于聚焦闭环循迹开环道跟踪误差信号来测量光盘偏心的方法。背景技术偏心ECC(Eccentricity)是用来衡量光盘质量的非常重要的指标，它是指光盘信道几何中心与盘中心孔几何中心之间的偏差。在驱动器中光学头读取信息时，轨道跟踪伺服机构使光学头在半径方向快速移动，跟随轨道读出信息。由于径向跟踪伺服机构的跟踪能力和频率响应有一定的范围，而光学头的惰性又会限制伺服机构的反应速度，因此偏心值太高会影响光学头的轨道跟踪。红皮书规定CD唱盘...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术无源代码，用于学习原理，如您想要源代码请勿下载。