技术编号：6761311
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种检测存储器的半导体装置。背景技术 BIST(内置式自检)是一种通过使半导体装置自检来更容易地执行半导体装置检测的技术。用于检测存储器的存储器BIST电路包括地址产生器、控制电路和期望值比较器。在一般的操作中，将数据从输入端混合电路输入到存储器中并将数据直接从输出端混合电路输出。在存储器BIST过程中，激活存储器BIST电路并通过使用地址数据发生器来访问存储器，这样将从存储器输出的数据输入到期望值比较器。在进行扫描检测时，将从控制用触发器输出的...
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