技术编号：6762377
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明系关于一测试装置，其系用于测试具有载体基质的集成模块，其上配置复数连接位置，该连接位置之设计系可连接一集成模块，经由一连接地址，以连接至与该载体基质连接之测试单元。本发明更系关于一种用于操作此种测试装置的方法。背景技术 在集成模块的制造过程中，为了保持尽可能低的错误率，制造者系提供集成模块，例如提供DRAM内存制一所谓的烧入测试(或压力测试)，其中特别地该模块受到人为老化。此种烧入测试系用以在一短操作时间之后，挑出发生错误的集成模块，所以尽可能地该使...
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