技术编号：6762673
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及有行和列冗余而行方向和列方向的保持道(keepingtrack)有时必须修复的存储器阵列测试方法，以及用于执行该方法的基于存储器的设备。本发明涉及权利要求1的前述部分部分描述的方法。多年以来集成电路存储器芯片的容量不断增长。大容量存储器，特别是DRAM，的产量低。提供有备用行和备用列从而在测试后分别代替错误的行和列以修复错误的阵列的存储器已成为惯例。在一般的制造中，2％的冗余提供3倍的产量。测试存储器阵列已成为精确的技术，采用预定的内容和预定的顺...
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