技术编号：6766376
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种集成电路芯片包括测试电路，其适用于执行测试操作，并且产生表示集成电路芯片中是否存在错误的测试结果信号；传输单元，其适用于通过层间通道来传输测试结果信号。在传输单元传输测试结果信号之前，将层间通道预充电至第一电平，而当存在错误时将层间通道驱动至第二电平。专利说明集成电路芯片和包括其的多芯片系统[0001]相关申请的交叉引用[0002]本申请要求2013年5月28日提交的申请号为10-2013-0060307的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于...
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