技术编号:6766427
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种用于嵌入式快闪存储器的内建自测试方法及装置,所述方法包括第一探查步骤、模拟老化步骤、第二探查步骤,其中,所述第一探查步骤包括生成原始测试数据;获取测试数据变换规则;根据所述原始测试数据和所述变换规则,生成变换后数据;将所述原始测试数据和所述变换后数据分别写入闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行;所述第二探查步骤包括分别读取所述闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行的数据;基于从第0行和第1行读取的数据,判断所述闪存模块是否通过测试。本发明在对nvr阵列的...
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