技术编号:6766824
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种用于测试存储器的方法和存储器系统。所述方法包括对存储在所述存储器中的用户数据执行错误纠正码校验(ECC校验);使存储在所述存储器中的所述用户数据反转;对存储在所述存储器中的反转的用户数据执行进一步的ECC校验;以及使存储在所述存储器中的所述反转的用户数据反转,以恢复所述存储器中的所述用户数据。专利说明用于测试存储器的方法和存储器系统 [0001]本发明的实施例涉及一种通过执行错误纠正码校验来测试存储器的方法。本发明的进一步的实施例涉及一种存储器系...
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