技术编号:6766971
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种半导体集成电路,包括测试输入/输出端口,其包括测试焊盘;内部输入接口,其配置成通过该测试输入/输出端口响应外部信号以产生内部时钟、内部地址、内部命令、内部数据以及暂时储存数据;以及错误检测块,其配置成判断该内部数据和该暂时储存数据是否相同,并通过该端口的一个测试焊盘输出结果。该内部输入接口包括产生该内部数据的数据输入/输出块,且该数据输入/输出块包括暂时储存部,其将该内部数据储存为该暂时储存数据;数据输出部,其接收该暂时储存数据;以及数据输入...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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