技术编号：6768663
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明关于一种，特别是一种批次测试电子元件的。背景技术随着科技的进步，电子产品在日常生活中随处可见，并愈趋多样化发展。各种电子产品的功能及应用领域虽有不同，为使系统顺利运作，相关必要元件包括如处理器、储存单元及电连接器等。其中，由于制程技术的发展迅速，使得电子元件的体积渐小，为确保良品率，电子元件通常在出厂或组装前，需要进行检测，以确保电子产品的良品率。以储存单元为例，依照现有的不同技术及结构分类，包括动态随机存取存储器 (dynamic random a...
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