技术编号:6768676
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种存储器,特别是涉及一种具有自我测试功能的存储器。 背景技术由于现今存储器的容量大小不断地增加,导致在测试存储器上所花费的时间亦随 着增加。测试时间增加对于存储器制造商而言是一种额外成本。因此,有效测试存储器的 能力不仅对于确保存储器工作正常很重要,而且对于节约成本亦很重要。现今业者泛用内建自我测试(Built In Self Test,BIST)技术在所属中 被用来测试存储器是否正常。在一般存储器内建自我测试(Memory Built In ...
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