技术编号:6770752
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及用于半导体存储器装置的容错技木。更具体地,本公开涉及使用位替代技术来重映射故障存储器単元到替代单元的存储器装置。背景技术随着DRAM装置的特征尺寸连续减小,保持存储器単元容量的现有水平逐渐变得困难。因此,随着特征尺寸连续减小,存储器単元容量也下降,这造成数据保持时间相应下降。这意味着更大百分比的存储器単元不能满足最小数据保持时间要求,这对DRAM装置的制造增长有不利影响。附图说明 图I根据公开的实施方案示出存储器系统。图2A根据公开的实施方案示出...
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