技术编号:6771075
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体而言涉及数据错误检查,更具体而言涉及数据错误检查电路、数据错误检查方法、使用数据错误检查功能的数据传输方法、使用数据错误检查功能的半导体存储装置和存储系统。背景技术典型的半导体电路可以具有用于检查在数据中是否发生了错误的错误检查功能, 以便改善高速数据传输的数据可靠性。一种典型的错误检查方法是循环冗余检查(CRC, cyclic redundancy check)功會旨。图1是一种具有传统的CRC功能的典型半导体电路的图示,其中经由各个数据输入/...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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