技术编号：6772124
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体失效分析方法，具体涉及一种。背景技术失效单元位图(failure bitmap)分析方法是存储器器件失效分析的常用方法。利用位图分析，通常能够进行较为准确的故障点定位。但是由于失效因素的多样性和电路及版图结构的复杂性，单凭存储单元位图定位可能带来方向性的偏差，从而为失效分析带来困难。发明内容本发明所要解决的技术问题是提供一种，它可以提供更为精确可靠的故障定位方法。为解决上述技术问题，本发明的技术解决方案为，包括以下步骤步骤一根据非挥发存...
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