技术编号:6775590
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试存储设备的方法和设备。更具体地,本发明涉及在测试存储设备时增加置于其上的应力。背景技术 许多现代数字设备都包含半导体存储器(例如,动态随机存取存储器,DRAM),其用于存储该数字设备所使用的信息。为确保设置在数字设备中的存储器正常工作,该存储器要经过严格的测试。例如,存储器可能要经受一种被称为烧入的测试。典型的烧入包括随着升高的电压对存储设备施加高温(典型的是用一种被称为烧入炉的设备)。这种烧入是要将应力施加到存储设备上以检测其潜在的缺陷(也...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。