技术编号:6776611
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。背景技术存储器单元,例如反熔丝一次编程(OTP)存储器单元,可含有在编程存储器阵 列中的所有存储器单元后被激活的泄漏路径。泄漏路径的激活可由数种机制导致。举 例来说,泄漏路径可由存在于直到反熔丝断裂才在电方面被人们察觉的位置上的缺陷 造成。 一旦所述反熔丝断裂并且形成细丝,那么此缺陷可在两个字线之间、两个位线 之间或一个字线和一个位线之间提供短路。泄漏路径也可由经编程存储器单元的逆向 泄漏的轻微改变而造成。尽管选择存储器单元时并非用于读取目的,但未选择的逆...
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