技术编号:6777546
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明主要涉及到微处理芯片设计领域,特指一种对片外DDR DRAM进行数据读取时采样点可配置的片外DRAM数据采样方法。背景技术 目前无论在高性能微处理器领域还是在嵌入式应用中,DDR DRAM都是主流内存技术之一。DDR是双倍数据速率(double data rate)的意思。DDR DRAM的特征是双沿传输、数据宽度64位。目前市场上的主流DDR DRAM类型大致有两种DDR1 DRAM和DDR2 DRAM。DDR1 DRAM为2.5V基准电压,速度规...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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