技术编号:6777802
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种垂直磁记录介质、评估其磁性能的方法以及磁记录设备背景技术磁记录介质的磁存储层通常具有其中通过非磁性晶粒边界来去耦微小磁性粒子的结构。近年来,正在研究用于构造由诸如氧化物的非金属材料制成的晶粒边界的方法。在IEEE Trans.Magn.,vol.36,p.2393,2000,和IEEE Trans.Magn.,vol.38,p.1976,2002中介绍了这种方法的典型例子。这种晶粒边界结构增强每个磁性粒子的磁化方向的独立性并使磁性存储层中的反...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。