技术编号:6782121
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导M储器件,特别地,涉及一种用于修复半导体 存储器件的缺陷的装置。背景技术在半导体存储器件中,可使用X地址和Y地址来修复有缺陷的存储单 元。以下描述一种使用X地址的修复装置。图1为传统半导体存储器件的框图。参看图l,该传统半导体存储器件包括多个存储体100、 110、 120和 130,每个存储^f多个分别的单元阵列102、 112、 122和132及修复信 息存储器104、 114、 124及134。图2为图1中示出的存储体110的框图。...
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