技术编号:6782233
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种具有用于测试外部存储器的内置自测(BIST ) 电路的半导体器件,并涉及一种当应用于片上系统形式的半导体器 件以及其中安装有存储器芯片连同片上系统形式的数据处理器的系 统封装形式的半导体器件时有效的技术。背景技术在完成本发明之后进行的现有技术检索中,找到以下已知文献。 日本未审专利公开No. 2004-093433描述了 一种用于使用TAP(测试 存取端口 )控制器直接执行闪速存储器的操作测试的技术。诸如命 令和地址的测试信息通过使用扫描链直...
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