技术编号:6782586
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供,尤其涉及一种基于失效物 理模型对闪存类电子产品进行寿命预测的方法,属于电子产品的寿命预测技术。(二) 背景技术目前,工程实际中主要采用GJB/Z 299C (我国军标-电子设备可靠性预计手 册)以及MIL-HDBK-217F (美国军标-电子设备可靠性预计)来对电子产品/设 备的失效率进行预计。这种基于标准或手册的方法,是一种以大量的失效统计数 据(包括现场或试验室统计)为基础的概率统计方法,其正确性受到越来越多的 质疑。同时,由于电子产品自身...
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