修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法技术资料下载

技术编号:6783248

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本发明是有关于一种,熔丝单 元可通过标准接口直4妻进行编程程序,以有效的减少修补时间及降低成本。背景技术现今的存储装置,由于容量的要求越来越高,所以封装程序将相对的变的 更复杂与困难。在制程程序中,高整合的存储装置容易出现较多的缺陷存储晶 胞。因此,存储装置随着容量的增加将产生更多的缺陷存储晶胞,而将进一步 影响到存储装置的良率。传统上,常使用冗余存储阵列来提升存储装置的良率,并且该冗余存储阵 列是为冗余存储晶胞所组成。当缺陷存储晶胞出现于存储装置的主存储...
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