技术编号：6784008
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体存储器测试领域，尤其涉及用于检测半导体存储器中延迟故障的可测试性设计(DFT)方法。背景技术 集成电路的系统自动测试变得越来越重要。随着每个新一代的集成电路组件密度的发展，系统功能数和时钟速度也大大增加。集成电路已经达到了这样的复杂性和速度，即甚至使用最完善最昂贵的常规测试方案都不能再检测到处理缺陷。然而，用户不接受在操作使用过程中表现出隐藏缺陷，由此出现例如不可靠的生命支持系统或飞机控制系统的那些产品。自定时半导体存储器在本领域中是公知的...
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