技术编号:6784065
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体存储器的测试领域,尤其涉及一种半导体存储器中电阻开路缺陷的方法。背景技术 集成电路的系统自动测试变得越来越重要。随着每个新一代的集成电路元件密度,系统功能数和时钟速度也显著增加。集成电路已经达到了这样的复杂性和速度,即,即使使用最完善最昂贵的常规测试方案都不能再探测到处理缺陷。然而,用户不会接受在操作使用过程中表现出隐藏缺陷的产品,由此使得例如生命支持系统或飞机控制系统变得不可靠。目前,对于SRAM,内置半导体存储器以达到2ns的时钟周期高...
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