技术编号:6799168
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于往半导体基片进行离子注入的真空室,例如注入硼、磷、砷离子,采用了热传递管将热量从被注入的基片移走。在相似的操作方法中,将被注入的基片的表面保持低温的技术要求,已有所叙述。在真空中成组地注入的情况下,热量从被注入基片移走是借助于将热量传递至弹性垫板和支承块、经过基片的支承部传递至被支承的注入盘,或在更先进的技术方法中,直接传递至冷却介质。水,通常被用作冷却介质。可能的最大注入效率(W/cm2)是取决于基片的最高容许温度,取决于冷却水的温度,和取...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。