技术编号:6804493
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体器件的检测,特别涉及此类器件的加速老化的检测。以前曾有各咱方法用于预测或检测半导体器件的性能失效的性能。此类器件制造采用多种方法,防止不耐用的器件在顾客使用时失效。这些制造者希望器件具有良好的性能,以便建立器件的可靠性,避免退货,减少制造者的保修呼叫,并避免用户的不满。一种众所周知的与半导体器件寿命特别相关的现象通称为“初期失效率”。该术语用来描述在新元件中观测到的较高失效率。一般,元件在短期工作后,从原始的高失效率下降到一个低值,并在较长...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。